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第三届集成电路测试大会

活动信息

  • 时间:2024-08-23 10:30:00
  • 地点:深圳
  • 规模:200
  • 参会范围:国内外专家学者,相关大学、企业和研究机构
  • 主办单位:中国电子仪器行业协会、中国电子学会电子测量与仪器分会、集成电路与微系统全国重点实验室、广东省仪器仪表行业协会
  • 承办单位:电子科技大学(深圳)高等研究院、中国电子科技集团公司第五十八研究所、西安太乙电子有限公司、深圳速跃芯仪科技有限公司
  • 联系人:赵佳纯
  • 电话:13322741162
  • 邮箱:ictc2024@126.com

活动简介

集成电路测试技术(AI芯片测试技术、智能测试技术、可靠性测试与失效分析技术、可测性设计技术); 集成电路测试标准研究 ; 集成电路测试装备设计与测试开发技术;

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