第三届集成电路测试大会
活动信息
- 时间:2024-08-23 10:30:00
- 地点:深圳
- 规模:200
- 参会范围:国内外专家学者,相关大学、企业和研究机构
- 主办单位:中国电子仪器行业协会、中国电子学会电子测量与仪器分会、集成电路与微系统全国重点实验室、广东省仪器仪表行业协会
- 承办单位:电子科技大学(深圳)高等研究院、中国电子科技集团公司第五十八研究所、西安太乙电子有限公司、深圳速跃芯仪科技有限公司
- 联系人:赵佳纯
- 电话:13322741162
- 邮箱:ictc2024@126.com
活动简介
集成电路测试技术(AI芯片测试技术、智能测试技术、可靠性测试与失效分析技术、可测性设计技术);
集成电路测试标准研究 ;
集成电路测试装备设计与测试开发技术;