2023-03-24
应广大企事业单位和科技工作者需要,现将学会2022年度已正式发布标准情况汇总如下,欢迎各单位参考使用。如需购买标准,请登录中国标准出版社。
序号 | 标准编号 | 标准名称 | 牵头单位 |
1 | T/CIE 130-2022 | 区块链 智能合约 形式化设计与验证方法 | 北京航空航天大学 |
2 | T/CIE 131-2022 | 通用时空信息应用支撑平台 参考架构 | 东软集团股份有限公司 |
3 | T/CIE 132-2022 | 磁控溅射设备薄膜精度测试方法 | 北京航空航天大学 |
4 | T/CIE 133-2022 | 磁随机存储器件数据保持时间 测试方法 | 北京航空航天大学 |
5 | T/CIE 134-2022 | 磁随机存储芯片数据保持时间 测试方法 | 北京航空航天大学 |
6 | T/CIE 135-2022 | 信息系统交付能力成熟度模型 | 质量促进(北京) 技术中心 |
7 | T/CIE 136-2022 | 机器人多传感器引导技术规范 | 安徽工程大学 |
8 | T/CIE 137-2022 | 区块链 数据要素流通 授权管理规范 | 清华大学 |
9 | T/CIE 138-2022 | 盲插式带压插拔流体连接器 | 中航光电科技股份有限公司 |
10 | T/CIE 139-2022 | 云计算系统及服务 符合性测试规范 | 工业和信息化部 电子第五研究所 |
11 | T/CIE 140-2022 | 云计算系统及服务 质量测试规范 | 工业和信息化部 电子第五研究所 |
12 | T/CIE 141-2022 | 基于模型的通用质量特性 协同设计 | 工业和信息化部 电子第五研究所 |
13 | T/CIE 142-2022 | 数据驱动的通用质量特性 协同设计 | 工业和信息化部 电子第五研究所 |
14 | T/CIE 143-2022 | 复杂组件封装关键结构寿命 评价方法 | 工业和信息化部 电子第五研究所 |
15 | T/CIE 144-2022 | 半导体器件可靠性强化试验方法 | 工业和信息化部 电子第五研究所 |
16 | T/CIE 145-2022 | 辐射诱生缺陷的深能级瞬态谱 测试方法 | 工业和信息化部 电子第五研究所 |
17 | T/CIE 146-2022 | 微机电(MEMS)器件晶圆键合 试验评价方法 | 工业和信息化部 电子第五研究所 |
18 | T/CIE 147-2022 | 空间行波管加速寿命试验评估 技术规范 | 工业和信息化部 电子第五研究所 |
19 | T/CIE 148-2022 | 阻变存储单元电学测试规范 | 工业和信息化部 电子第五研究所 |
20 | T/CIE 149-2022 | 霍尔电推进系统点火测试规范 | 工业和信息化部 电子第五研究所 |
21 | T/CIE 150-2022 | 现场可编程门阵列(FPGA)芯片 时序可靠性测试规范 | 工业和信息化部 电子第五研究所 |
22 | T/CIE 151-2022 | 现场可编程门阵列(FPGA)芯片 动态老化试验方法 | 工业和信息化部 电子第五研究所 |
23 | T/CIE 152-2022 | 微电子器件假冒翻新物理特征 识别方法与程序 | 工业和信息化部 电子第五研究所 |
24 | T/CIE 153-2022 | 工业机器人故障诊断与预测性维护 第1部分:故障分类与编码 | 工业和信息化部 电子第五研究所 |
25 | T/CIE 154-2022 | 基于DNA的信息存储编解码系统 技术规范 | 深圳华大生命 科学研究院 |
欢迎各企事业单位、高校和科研院所申报学会标准项目,联系方式:010-68600786,张老师。
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